-
- 90Plus PALSZeta電位及粒度分析儀
90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀是目前*能夠測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器，它采用的是真正的硬件PALS（相位分析光散射）技術，比其它測量Zeta電位的技術靈敏度高1000倍！
- 型號：90Plus PALS
- 更新日期：2023-01-18 ￥面議
-
- LS 13 320 XR激光衍射粒度分析儀
貝克曼庫爾特公司已有數十年顆粒表征分析的歷史。作為顆粒產品的重要一員，多波長PIDS特有技術（ZL號：4953978；5104221）的激光衍射粒度分析儀LS系列一直是業內的翹楚。
- 型號：LS 13 320 XR
- 更新日期：2023-01-18 ￥面議
-
- Multisizer 4e顆粒計數及粒度分析儀
Multisizer 4e顆粒計數及粒度分析儀是迄今為止功能Z全、分辨率Z高的顆粒計數及粒度分析儀。不但可分析粒徑分布，還能分析微量顆粒的體積、數量。配合的體積測量泵，Multisizer系列顆粒計數及粒度分析儀還可提供顆粒的個數與濃度。對于生物細胞的體積改變，還可作隨時的跟蹤監測分析。
- 型號：Multisizer 4e
- 更新日期：2023-01-18 ￥面議
-
- BI-DCP圓盤式離心/沉降粒度儀
BI-DCP圓盤式離心/沉降粒度儀是基于經典的離心/沉降原理，通過高精度的數字式電機控制，是迄今為止具有統計意義的沉降粒度儀粒度儀中分辨率、準確率Z高的測量儀器。廣泛應用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業的質量控制方面。
- 型號：BI-DCP
- 更新日期：2023-01-18 ￥面議
-
- BI-200SM廣角動靜態激光光散射儀
廣角動靜態激光光散射儀采用TurboCorr數字相關器，通過動態光散射的方法可以測量小至1nm的納米顆粒分布情況，通過靜態光散射的方法可測量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲線、分子量、均方根回旋半徑及第二維里系數。多角度激光光散射儀經國內外眾多實驗室使用，證明BI-200SM是研究聚合物、膠束、微乳液以及復雜溶液等體系的理想測試儀器。
- 型號：BI-200SM
- 更新日期：2023-01-18 ￥面議
-
- BI-MwA多角度激光光散射儀（分子量測定）
多角度激光光散射儀（分子量測定） 美國布魯克海文儀器公司一直被*為光散射領域的，它的每一項技術都代表著世界Z高水平?；诙嗄旯馍⑸浼夹g和經驗開發研制的BI-MwA多角度激光光散射（分子量測定）儀對光散射儀器進行了開創性的革新，解決了分子量測定中存在的諸多問題，使得分子量表征更加客觀與可靠。
- 型號：BI-MwA
- 更新日期：2023-01-18 ￥面議
